Лабараторија се бави рендгенском структурном анализизом (engl. X-ray Powder Diffraction, XRPD) тј. за инедетификацију и испитивање кристалних супстанци. Рендгенска дифракција даје одговор на питање које су кристалне фазе присутне у поликристалном узорку и омогућава детаљнију анализу структуре материјала која даје информације о међуатомским растојањима, угловима међу атомским везама, тачном положају атома и сл. Као резултат рендгенске анализе добијају се и микроструктурни подаци о материјалу: величина кристалита и микроструктурна напрезања. Такође, Лабораторија испитује материјале на малим угловима, тзв. Рендгенска дифракција на малим угловима (engl. Small-angle X-ray scattering, SAXS). То је метода рендгенске дифракције где се еластично одбијање рендгенског зрачења од узорка који садржи структурне нехомогености у нанометарском опсегу, снима на веома малим угловима (обично од 0.1° до 10° 2θ). Овај угаони опсег садржи информације о облику и величини макромолекула, затим о карактеристичним међупросторима (дистанцама) између секвенци код делимично уређених структура, затим информације о величинама пора, као и многе друге информације. SAXS се користи за одређивање структуре система код којих су величине честица у нанометарском опсегу. У том смислу могуће је одредити просечну величину честица, њихов облик и дистрибуцију. Затим присуство пора, такође и њихов облик и дистрибуцију, као и однос површине и запремине. Испитивани материјал може бити у чврстом или течном стању и као такав у свом саставу може имати различите чврсте, течне или гасовите уклопке (тзв. домене) истог или различитог састава. SAXS метода анализе материјала налази широку примену која укључује испитивање наноматеријала, свих типова колоида, метала, цемента, уља, полимера, пластике, протеина, хране као и лекова, у смислу испитивања самих материјала али такође и за конролу квалитета.